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華測(cè)儀器低壓漏電起痕試驗(yàn)儀：CTI相比電痕化指數(shù)測(cè)試發(fā)布時(shí)間：2025-12-17

隨著電子電器產(chǎn)品向小型化、高密度化發(fā)展，對(duì)絕緣材料在潮濕、污染等惡劣環(huán)境下的耐電痕化能力提出了更高要求。低壓漏電起痕試驗(yàn)儀（Low-VoltageComparativeTrackingIndexTester）作為評(píng)估絕緣材料耐電痕化性能的關(guān)鍵設(shè)備，廣泛應(yīng)用于電工材料、家用電器、電...

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2025
6-30

華測(cè)儀器和您一起探討高壓功率放大器使用場(chǎng)景
華測(cè)儀器和您一起探討高壓功率放大器使用場(chǎng)景華測(cè)儀器高壓功率放大器涵蓋輸出50V~40kV電壓，主要用于工業(yè)和研究應(yīng)用的直流、交流放大器，提供對(duì)輸出電壓的精確控制，并具有高轉(zhuǎn)換速率、寬帶寬和低噪聲輸出。四象限有源輸出驅(qū)動(dòng)阻性和容性負(fù)載通過(guò)閉環(huán)...
2025
6-27

塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀的主要功能、測(cè)試范圍及測(cè)試條件綜合說(shuō)明？
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀的主要功能、測(cè)試范圍及測(cè)試條件綜合說(shuō)明一、主要功能雙參數(shù)同步測(cè)試l塞貝克系數(shù)：采用靜態(tài)直流法，測(cè)量材料在溫差下的熱電勢(shì)（單位：μV/K）。l電阻率/電導(dǎo)率：通過(guò)四端法測(cè)量電阻，計(jì)算電導(dǎo)率（單位：S/cm）。l數(shù)據(jù)集成分析...
2025
6-26

如何通過(guò)D33壓電系數(shù)測(cè)試儀進(jìn)行材料的動(dòng)態(tài)測(cè)試
D33壓電系數(shù)測(cè)試儀是一種專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量壓電材料d33值的設(shè)備，而動(dòng)態(tài)測(cè)試則能夠更全面地評(píng)估材料在不同頻率和應(yīng)力條件下的性能。壓電材料在傳感器、換能器、能量收集器和精密驅(qū)動(dòng)等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用。為了準(zhǔn)確評(píng)估壓電性能，通常需要測(cè)量其壓電系數(shù)（如d...
2025
6-26

閃絡(luò)與擊穿的區(qū)別？
閃絡(luò)與擊穿的區(qū)別？閃絡(luò)和擊穿都是與絕緣材料在電場(chǎng)作用下的失效現(xiàn)象相關(guān)的術(shù)語(yǔ)，但它們之間存在一些關(guān)鍵的區(qū)別。以下是閃絡(luò)和擊穿的主要區(qū)別：特性閃絡(luò)擊穿定義沿著絕緣表面發(fā)生的破壞性放電絕緣材料由絕緣狀態(tài)變?yōu)閷?dǎo)電狀態(tài)的躍變現(xiàn)象，通常發(fā)生在固體電介質(zhì)...
2025
6-25

實(shí)驗(yàn)室必要設(shè)備解析：電壓擊穿試驗(yàn)儀選購(gòu)與操作指南
實(shí)驗(yàn)室必要設(shè)備解析：電壓擊穿試驗(yàn)儀選購(gòu)與操作指南一、什么是電壓擊穿試驗(yàn)儀？電壓擊穿試驗(yàn)儀是檢測(cè)固體絕緣材料（如塑料、樹(shù)脂、陶瓷、薄膜等）電氣性能的核心設(shè)備，通過(guò)施加工頻或直流電壓，精準(zhǔn)測(cè)量材料的擊穿強(qiáng)度及耐壓時(shí)間。華測(cè)儀器深耕行業(yè)13年，其...
2025
6-24

影響D33測(cè)試準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性的因素是什么？
影響D33測(cè)試準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性的因素是什么？影響D33測(cè)試準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性的因素有很多，主要考慮以下因素：壓力是否全部加于試樣，壓力的方向是否與試樣極化軸平行，測(cè)試電極是否平整和相互平行，受力和產(chǎn)生感應(yīng)電效應(yīng)的面積是否相等，壓力釋放瞬間是否有試...

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